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포토 리소그래피

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1. 개요2. 참고 영상3. 패턴화
3.1. 최소 선폭3.2. Depth of Focus
4. 인쇄적성5. 과정
5.1. MASK 생성
5.1.1. 결함 (Defect)5.1.2. OPC
5.2. 감광액 도포
5.2.1. 감광액
5.3. Soft Bake5.4. Alignment5.5. 노광 작업
5.5.1. 노광 방법
5.6. 현상5.7. Hard Bake5.8. PR 제거
6. 공정의 종류와 발전
6.1. 나노 임프린트 리소그래피
6.1.1. 열 NIL6.1.2. UV-NIL
6.2. 전자빔6.3. EUV lithography6.4. Quantum lithography

1. 개요

Photolithography
반도체 8대 공정 중 하나로, 설계도를 기반으로 한 MASK 패턴을 웨이퍼에 그려넣는 과정이다. 매우 정밀한 수준의 장비가 요구되기 때문에 리소그래피 장비를 자체 제작할 수 있는 기업은 그리 많지 않다.

이름은 석판화에서 왔다. 공정 자체가 석판화 기법과 비슷하기 때문.

2. 참고 영상

삼성전자 반도체 뉴스룸 유튜브
▲ 포토 공정

3. 패턴화

포토 공정으로 설계 도면을 구현하는 것을 "Patterning"이라고 한다. 해당 작업의 완성도가 높을수록 작업 결과물의 해상도가 높다고 표현하는데, 이는 즉 정교한 패턴이 잘 그려졌다는 것을 뜻한다.

미세공정을 사용하면서 이러한 Patterning의 퀄리티 유지에도 어려움이 생겼는데, 이에 따라 같은 공정을 2회 반복하여 패턴을 정교하게 만드는 "Double Patterning" 같은 기술 등이 사용되고 있다.

3.1. 최소 선폭

Minimum Line Width. 선폭이란 MOSFET에서 게이트의 길이를 뜻한다. 최소 구현 가능한 최소 길이를 뜻하는 단어다. 이 길이가 작을수록 높은 해상도(resolution)의 패턴을 그릴 수 있음을 의미한다.

3.2. Depth of Focus

상의 깊이를 뜻한다. 클수록 더 섬세한 작업이 가능하므로 좋다.

4. 인쇄적성

포토 공정의 결과가 제대로 잘 나오는 정도를 말한다. 영어로는 Printability.

보통 장비의 렌즈 개수 (NA), 포커스, 웨이퍼 공정 조건, 마스크 패턴 결함의 크기, 종류, 위치 등이 연관된다.

5. 과정

5.1. MASK 생성

설계가 완료된 도면(Layout)을 마스크(MASK) 형태로 변환하는 작업을 말한다. 이는 장비에서 Design 파일 그 자체로는 인식하지 못하기 때문이다. 인식하는 Format이 다 달라서 장비에 맞게 변환해주어야 하는 점도 있다.

또한 Design 파일을 그대로 사용하면 문제가 되기도 해서 공정 미세화에 따라 OPC와 같은 추가 작업이 진행되기도 한다.

마스크는 크롬이 칠해진 석영유리판에 만드는데, 빛 (가시광선, 자외선, X선 등)을 이용하여 패턴을 생성한다. 또한 마스크는 1개의 설계도면에 대해 여러 장을 만드는데, 이는 포토 공정용 장비가 워낙 흑백 인식성이 강하여 겹치는 부분에 대한 인식이 취약하기 때문이다. 때문에 마스크 패턴을 한장씩 완성시켜나가는 방식으로 공정이 진행되게 된다.

5.1.1. 결함 (Defect)

마스크를 생성할 때에 발생하는 오류 부분을 말한다. 디스플레이쪽 용어로도 사용된다.

5.1.2. OPC

Optical Proximity Correction. 마스크 패턴의 변형 오류를 예상하여 설계 도면을 보정하는 작업을 말한다.OPC 설명

마스크 패턴을 생성할 때 설계 도면의 사각형을 그대로 마스크로 찍어내면 빛의 굴절 때문에 사각형보다 더 안쪽이 깎이면서 도형이 원형으로 깎이게 된다.

5.2. 감광액 도포

빛에 민감한 물질인 감광액 (Photo Resist, PR)을 도포하는 과정이다. 장비로 진행하면 웨이퍼 위에 로션 같은 물질이 뿌려지고, 장비가 웨이퍼를 짧게 스핀시켜 감광액을 전체 표면에 빠르게 퍼뜨린다.(Spin Coating) 주위로 PR이 튀는 모양새가 좀 그로테스크하기도 하다.그러니까 뚜껑 잘 덮자


5.2.1. 감광액

PR은 종류에 따라 2종류로 나뉜다.
보통은 Positive PR이 많이 사용되지만, 공정상 부득이한 경우 Negative PR이 사용되는 경우도 있다.

5.3. Soft Bake

베이킹의 그 Bake가 맞다. 웨이퍼를 굽는 것이 빵 굽는 것과 같다는 의미에서 유래했다.

감광액의 접착력 향상을 위해 건조하는 과정이다. 90도 ~ 100도 정도의 열을 가하는 과정이다.

Convention, Infrared (IR), Hot Plate 방식 등이 있다.

5.4. Alignment

마스크를 웨이퍼 패턴에 정확히 배열하는 공정이다.

노광을 하려면 마스크와 웨이퍼의 수직 위치가 일치해야 하기 때문이다.

보통 마스크와 웨이퍼에 Align Key 표시해두고 이를 이용하여 위치를 맞춘다.

5.5. 노광 작업

영어로는 Expose.

웨이퍼 위에 Align 된 마스크를 두고, 그 위에서 빛을 쪼아주는 과정이다. 이에 따라 마스크 패턴을 통과한 빛이 웨이퍼의 노광액과 반응하게 된다. 노광장비인 Stepper가 이용된다.

5.5.1. 노광 방법

5.6. 현상

영어로는 Develop.

노광이 끝난 웨이퍼에 현상액을 뿌리면 감광액의 종류에 따라 물질이 삭제되면서 패턴이 생성된다. 이 과정을 현상한다 (Develop)고 표현한다. 참고로 필름을 현상한다는 때에도 동일한 용어를 쓴다.

5.7. Hard Bake

노광과 현상이 끝난 후 감광제를 모두 굳히기 위해 120~150도에서 20~30분 정도 건조하는 과정이다.

이 과정을 거쳐야 PR이 모두 굳어서 PR을 식각하기 용이해진다.

5.8. PR 제거

모두 굳은 감광제를 아세톤 등의 용액으로 제거하는 과정이다. 이후 웨이퍼를 Cleaning 한 뒤 말리고 빼낸다.

6. 공정의 종류와 발전

6.1. 나노 임프린트 리소그래피

Nano Imprint Lithography (NIL)

나노 크기의 패턴을 가지는 요철 형태의 기판을 폴리머 resin에 전사하는 방법이다. 고가의 장비가 불필요하여, 이전의 공정보다 작은 스케일의 패턴이 가능하다.

경화 방식에 따라 2가지로 나뉜다. 열을 가하는 Thermal-NIL과 UV 광원을 이용하는 UV-NIL.

작업 방식은 다음과 같다.
  1. resin이 도포된 기판 표면 박막에 압력을 가하여 나노 구조의 스탬프를 임프린트한다. 이 과정에서 스탬프의 패턴은 resin에 복제된다. 임프린트 스탬프를 제작하기 위해서는 Positive resist[1]를 이용한 주기적인 패턴 제작, 주기적인 metal 나노 구조물 제작, 나노 패턴 형성을 위한 식각 기술이 필요하다.
  2. 방향성 식각을 통하여 패턴을 전사한다.
    나노 임프린트 resin 패턴의 잔여 층이 존재할 경우, 향후 식각 공정에서 pattern을 형성하고 유지하는데 영향을 미치고, pattern 전체가 뭉개지는 현상이 발생한다. 따라서 이온 식각(Reactive Ion Etch) 장비를 이용하여 잔류하던 잔여 층을 제거해야 한다.
    금속 박막 층의 노출로 산화물 stamp, 제작이 이루어져야 하기 때문에 식각 가스로 금속과 산화 반응을 하는 산소 가스를 사용한다. 잔여 층이 약 20 mm 정도로 얇게 형성되기 때문에 40W의 낮은 플라즈마 power로 진행하여야 한다.

6.1.1. 열 NIL

스탬프와 고분자가 코팅되어 있는 기판을 접촉시켜 고분자의 유동성이 높은 유리 전이온도[2] 이상에서 적절한 압력을 주어 고분자 폴리머들이 스탬프의 패턴 사이로 채워져 resin에 패턴 전사가 이루어지게 된다. 연속적으로 유리 전이온도 이하로 냉각한 뒤 스탬프를 고분자 패턴에서 제거하여 하부에 존재하는 resin 잔류 층을 시각 또는 물리적, 화학적 방법으로 제거하여 열 임프린트 공정을 이용하여 나노 패턴을 형성하게 된다.

보통 임프린트 온도는 폴리머의 유리전이 온도보다 높은 90℃ 이상에서 수행한다. 이 온도에서 고분자 물질이 유동성을 가져 스탬프 패턴 사이로 채워질 수 있다. PMMA의 경우 약 200℃에서 임프린트를 수행할 수 있지만 높은 온도로 인해 스탬프와 기판의 열팽창 및 불일치 그리고 가열 후 냉각의 문제점이 있다. 보다 균일한 패턴을 형성하기 위해서는 임프린트 resin의 낮은 점도가 요구되며, 이는 낮은 압력에서 쉽게, 균일하게 퍼지고, 임프린트 후 패턴 내 잔류 층의 두께를 최소화하여 잔류 층을 없애는 건식 에칭 공정을 간소화 할 수도 있다. 또한, 낮은 점도의 resin 제조는 임프린트 공정의 중요한 기술이며, 높은 해상도의 나노 패턴 형성과 함께 잔류 층의 제거를 보다 쉽게 할 수 있음을 나타낸다.

공정은 spin coating → soft baking → heating → molding → relaxation time → cooling → demolding 순서로 진행된다.

6.1.2. UV-NIL

1996년 Haisma 등이 처음으로 제안한 방법.

기판 위에 자외선 경화용 resin을 도포한 뒤 자외선 광원이 투명한 몰드를 통해서 resin을 감광시키면 경화가 일어나면서 단단해지게 된다. 이 공정은 상온에서 낮은 압력으로 임프린팅이 가능하지만, 투명한 몰드의 제작에 어려움이 있다. 전자 빔(Electron beam)을 통한 나노 패터닝 제작시 석영기판이 비전도성이기 때문에 나타는 전자의 축적효과(Charging effect)로 인해 전자빔의 왜곡을 일으키게 된다. 이 같은 특성은 석영을 식각하는 건식식각에서 해결되어야 하는 문제점으로 전자빔의 왜곡을 방지하기 위해 석영 위에 크롬을 얇게 증착하고 전자빔을 이용한 패터닝을 수행하는 연구가 발표되었다. 이때, 크롬 막은 도체이므로 전자가 축적되는 것을 해결해주며, 식각시 마스크로 이용할 수 있다. 또한 전도성을 가지는 산화막(Indium Tin Oxide)을 석영이나 유리 위에 증착해서 산화 막에 패터닝하여 전자 축적 효과의 문제를 해결하는 방법이 발표되었다.

6.2. 전자빔

전자빔 리소그래피는 전자의 높은 분해능 때문에 포토리소그래피보다 미세 패턴을 만드는 것 자체는 더 용이하다. 그러나 빛을 몇 초 가량 찰칵 노광하는 기존의 방식과는 달리 전자를 총처럼 하나하나 조사하는 방식이기 때문에 시간이 엄청 오래 걸린다. 따라서 반도체 공정용으로는 사용하지 않고 Cr위에 포토리소그래프용 마스크 패턴을 만들 때 사용된다.

6.3. EUV lithography

차세대 리소그래피 기술로는 EUV(극자외선) 리소그래피가 쓰이기 시작하고 있다. 파장이 짧은 레이저를 사용할수록 정밀한 패턴을 형성할 수 있지만 파장을 줄이는 것이 쉽지 않기 때문에 기술 개발에 오랜 시간이 걸렸다. 이로 인해 파운드리 3사인 TSMC, 삼성전자, 인텔은 ASML의 공동투자 프로그램에 참여하며 EUV 개발을 지원했고 7nm부터 도입이 본격화되고 있다.

자외선이라고는 하지만 거의 X선에 가까운 13nm근처의 파장 대역을 가지고 있다. 광선이 공기를 포함한 대부분의 물질에 흡수돼버리기 때문에 광선이 지나는 경로 전체를 진공으로 유지해야 하고 집광을 위해 렌즈가 아닌 거울을 사용해야 하는 등[3] 까다로운 점이 많다.

2022년 기준 TSMC가 EUV장비 전체 출하량의 절반 이상을 차지하고 있는것으로 알려져 있다. 그 외 나머지를 삼성전자, 인텔 파운드리 서비스 등의 파운드리 업체가 보유하고 있다. 메모리 분야도 HBM, 300단대 NAND 등의 분야에서 필요성이 대두되며 마이크론, SK하이닉스 등이 본격적인 발주를 시작했다.

6.4. Quantum lithography

Quantum lithography, 즉 양자 리소그래피는 양자 얽힘과 같은 빛의 비고전적인 특성을 이용하여 기존의 리소그래피 기술보다 향상된 효과를 얻을 수 있는 새로운 리소그래피 기술이다.

[1] 노광 시 빛에너지를 받은 부분이 현상과정에서 제거된다.[2] Glass transition temperature, Tg.[3] 렌즈를 통과하는 과정에서 광선이 렌즈를 이루는 분자들에 흡수돼버린다.



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